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掃描電子顯微鏡金屬材料表面分析儀主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài).，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像
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JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡（SEM）IT100的測試范圍：各種固體材料的形貌分析、微區(qū)化學(xué)成分檢測，樣品成份的線分布和面分布分析.
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桌面型掃描電子顯微鏡SEM表面分析儀IT100利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài).，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像.IT100自帶能譜,也可以分解.也是日本電子的一款掃描電鏡表面分析儀.
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桌面型掃描電子顯微鏡表面分析儀利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài).，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像
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